基于STM的分析技术发展及对二维量子材料物性的研究

Abstract:

报告人长期致力于基于扫描隧道显微镜（STM）的分析技术的发展，以及利用基于STM的技术手段进行低维量子材料的制备和物性的探索。本报告的第一部分介绍我们在自主研制低温STM，以及STM与光学手段集成，包括STM-针尖增强拉曼（TERS）和超快太赫兹STM的一些探索和发展。在第二部中简要介绍我们最近在低维材料的制备和物性分析方面的几个工作，包括在二维半导体中本征极化子的的STM操控、以及二维铁电材料的研究。希望本报告介绍的一些技术方法和材料体系能够抛砖引玉，促成更多合作。

Bio:

1995年浙江大学物理系毕业。2000年在中科院物理所获得博士学位，2000年到2004年在日本东北大学金属材料研究所从事科研工作，2004年回国在中科院物理所表面室任研究员，课题组长，现兼松山湖材料实验室材料制备与表征公共技术平台负责人。主要研究方向: 扫描隧道显微学、新型量子材料的生长与物性研究。共发表SCI论文180多篇，总引>1.2万次, H指数46（google scholar）。